https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3099 Mon, 06 Apr 2026 20:11:55 GMT 2026-04-06T20:11:55Z https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3298 Температурные и концентрационные свойства Осинский, В. И.; Деминский, П. В.; Ляхова, Н. Н.; Моторный, А. П.; Масол, И. В.; Суховий, Н. О. На основании исследований среднеквадратических динамических смещений атомов кристаллической решетки твердых растворов InxGa1-xN, обоснована необходимость использования последних для реализации монолитных Si/AIIIBV RGB источников света в одном технологическом процессе. На базе разработанных гибридно-интегральных RGB, RGBW, RGBO источников света, экспериментально подтверждена целесообразность использования каналов излучения в диапазонах 450-455, 525-535, 600-615 нм для повышения индекса цветопередачи. Предложена методика и разработано программное обеспечение, позволяющее задавать процентное соотношение распределения активных слоев для R, G, B-каналов излучения по поверхности чипа.; На основании исследований среднеквадратических динамических смещений атомов кристаллической решетки твердых растворов InxGa1-xN, обоснована необходимость использования последних для реализации монолитных Si/AIIIBV RGB источников света в одном технологическом процессе. На базе разработанных гибридно-интегральных RGB, RGBW, RGBO источников света, экспериментально подтверждена целесообразность использования каналов излучения в диапазонах 450-455, 525-535, 600-615 нм для повышения индекса цветопередачи. Предложена методика и разработано программное обеспечение, позволяющее задавать процентное соотношение распределения активных слоев для R, G, B-каналов излучения по поверхности чипа. Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3298 2012-01-01T00:00:00Z https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3297 Загальний підхід до побудови перевіряючих тестів для проведення діагностування аналогових пристроїв динамічним методом Шкуліпа, П. А.; Жердєв, М. К.; Лєвков, С. В. Розробляється загальний підхід до побудови перевіряючих тестів для проведення діагностування аналогових пристроїв, що працюють як система автоматичного управління динамічним методом. Це дозволяє застосувати динамічний метод діагностування до широкого класу аналогових пристроїв.; Разрабатывается общий подход к построению проверяющих тестов для проведения диагностирования аналоговых устройств, которые работают как система автоматического управления динамическим методом. Это позволяет применить динамический метод диагностирования к широкому классу аналоговых устройств.; There has been developing a general approach to designing tests for analogue devices‘ diagnostics, working as an automatic control system with dynamic method. This allows using dynamic method of diagnostics to a wide range of analogue devices. Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3297 2012-01-01T00:00:00Z https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3296 Нові підходи до реалізації оптоелектронних логіко- часових систем для перетворення і ущільнення зображень Майданюк, В. П.; Кириченко, О. В. В статті розглядаються питання розробки елементів і блоків для отоелектронних засобів ущільнення зображень. Запропоновано технічні реалізації оптоелектронних засобів та перерахункових структур в системах та засобах перетворення зображень.; В статье предлагаются вопросы разработки елементов и блоков для оптоелктронных устройств сжатия изображений. Предложены технические реализации оптоелектронных устройств и вычислительных структур в системах и устройствах обработки изображений Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3296 2012-01-01T00:00:00Z https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3295 Порівняльний аналіз оптоелектронних інтегральних схем на базі матриць смарт-пікселів Кожем'яко, В. П.; Дорощенков, Г. Д.; Мартинюк, Т. Б.; Гуцол, О. М. В статті розглянуто існуючі технології реалізації оптоелектронних інтегральних схем на базі матриць смарт-пікселів, їх функціональні можливості та області застосування. Наведено параметри окремих матриць смарт-пікселів з використанням вертикально випромінюючих лазерів.; В статье рассмотрены существующие технологии реализации оптоэлектронных интегральных схем на базе матриц смарт-пикселей, их функциональные возможности и области применения. Приведены параметры отдельных матриц смарт-пикселей с использованием вертикально излучающих лазеров.; Existing smart pixel based optoelectronic integrated circuits technologies, functional abilities and application area are considered in the article. Parameters of separate vertical-cavity surface-emitting laser based smart pixels are given. Sun, 01 Jan 2012 00:00:00 GMT https://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/3295 2012-01-01T00:00:00Z