Семеренко, В. П.; Semerenko, V. P. (ВНТУ, 2016-04)
Розглянуто типи дефектів і моделі м’яких помилок в пристроях динамічної напівпровідникової пам’яті з позицій завадостійкого кодування. Проведено аналіз використання циклічних кодів для різних типів помилок: випадкових, ...