Browsing 8.05020101 "Комп’ютеризовані системи управління і автоматика" by Subject "резонансна крива"
Now showing items 1-1 of 1
-
Рефрактометричний метод на основі поверхневого плазмонного резонансу
(ВНТУ, 2017)В даній роботі розроблено рефрактометричний метод для рідких середовищ на основі явища поверхневого плазмонного резонансу на межі поділу «метал-діелектрик», який дозволяє виключити вплив електричних параметрів джерела та ...