Показати скорочений опис матеріалу

dc.contributor.authorМихалевський, Д. В.uk
dc.contributor.authorMykhalevskiy, D. V.en
dc.date.accessioned2017-03-21T08:29:01Z
dc.date.available2017-03-21T08:29:01Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.citationМихалевський Д. В. Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів [Текст] / Д. В. Михалевський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2012. – № 2. – С. 74-78.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/14883
dc.description.abstractВ даній роботі запропоновано методику оцінки шумових характеристик для діодного вмикання інтегрального транзистора для проведення технологічного вихідного їх контролю за рівнем низькочастотних шумівuk
dc.description.abstractMethodology of estimation of noise descriptions is offered in this work. These descriptions are used for the diode including of integral transistors. It gives an opportunity to conduct technological control after the level of low-frequency noise.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherХмельницький національний університетuk
dc.relation.ispartofВимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. № 2 : 74-78.uk
dc.subjectконтрольuk
dc.subjectконтроль виробів електронної технікиuk
dc.subjectвироби електронної технікиuk
dc.subjectінтегральний транзисторuk
dc.subjectінтегральний діодuk
dc.subjectвласні шумиuk
dc.subjectнизькочастотні шумиuk
dc.subjectнадійністьuk
dc.titleДослідження шумових характеристик інтегральних діодівuk
dc.typeArticle
dc.identifier.udc621.315.592


Долучені файли

Thumbnail

Даний матеріал зустрічається у наступних спільнотах

Показати скорочений опис матеріалу