| dc.contributor.author | Михалевський, Д. В. | uk |
| dc.contributor.author | Mykhalevskiy, D. V. | en |
| dc.date.accessioned | 2017-03-21T08:29:01Z | |
| dc.date.available | 2017-03-21T08:29:01Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.identifier.citation | Михалевський Д. В. Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів [Текст] / Д. В. Михалевський // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. – 2012. – № 2. – С. 74-78. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/14883 | |
| dc.description.abstract | В даній роботі запропоновано методику оцінки шумових характеристик для діодного вмикання інтегрального транзистора для проведення технологічного вихідного їх контролю за рівнем низькочастотних шумів | uk |
| dc.description.abstract | Methodology of estimation of noise descriptions is offered in this work. These descriptions are used for
the diode including of integral transistors. It gives an opportunity to conduct technological control after the level
of low-frequency noise. | en |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Хмельницький національний університет | uk |
| dc.relation.ispartof | Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. № 2 : 74-78. | uk |
| dc.subject | контроль | uk |
| dc.subject | контроль виробів електронної техніки | uk |
| dc.subject | вироби електронної техніки | uk |
| dc.subject | інтегральний транзистор | uk |
| dc.subject | інтегральний діод | uk |
| dc.subject | власні шуми | uk |
| dc.subject | низькочастотні шуми | uk |
| dc.subject | надійність | uk |
| dc.title | Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів | uk |
| dc.type | Article | |
| dc.identifier.udc | 621.315.592 | |
