Анализаторы производственных дефектов
Автор
Месюра, В. И.
Котов, И. Н.
Роик, А. М.
Калашников, Э. М.
Месюра, В. І.
Роїк, О. М.
Дата
1986Metadata
Показать полную информациюCollections
- Наукові роботи каф. КН [806]
Аннотации
Рассмотрены основные принципы поэлементного диагностирования - нового подхода к диагностированию печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры в процессе ее производства. Приведены основные параметры разработанного анализатора производственных дефектов
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17908