Перегляд НТКП ВНТУ. Факультет інформаційних технологій та комп'ютерної інженерії (2018) за темою "burst errors"
Відображеня елементи 1-2 із 2
-
Контроль напівпровідникових пристроїв пам’яті за допомогою циклічних кодів
(ВНТУ, 2018)Розглянуто типи дефектів і моделі помилок в пристроях динамічної напівпровідникової памяті з позицій завадостійкого кодування. Проведено аналіз використання завадостійких кодів для різних типів помилок: випадкових, пакетів ... -
Математичні моделі помилок в завадостійкому кодуванні
(ВНТУ, 2018)Наведена класифікація помилок для різних моделей каналів зв’язку. Проаналізовані різні способи перемежування кодового слова. Запропонована циклічна степенева перестановка, яка дозволяє здійснити перехід від моделі випадкових ...