Search
Now showing items 1-1 of 1
Метод і засіб вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників
(ВНТУ, 2013)
Дисертаційна робота присвячена удосконаленню методу вхідного контролю структурно-чутливих параметрів некристалічних напівпровідників. Суть методу полягає у встановленні рівності досліджуваних зразків із ідентифікатором для ...