• English
    • русский
    • українська
  • українська 
    • English
    • русский
    • українська
  • Увійти
Перегляд НТКП ВНТУ. Факультет інфокомунікацій, радіоелектроніки та наносистем (2019) за темою 
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Науково-технічні конференції підрозділів Вінницького національного технічного університету (НТКП ВНТУ)
  • XLVIII НТКП ВНТУ (2019)
  • НТКП ВНТУ. Факультет інфокомунікацій, радіоелектроніки та наносистем (2019)
  • Перегляд НТКП ВНТУ. Факультет інфокомунікацій, радіоелектроніки та наносистем (2019) за темою
  • Головна
  • Матеріали конференцій ВНТУ
  • Науково-технічні конференції підрозділів Вінницького національного технічного університету (НТКП ВНТУ)
  • XLVIII НТКП ВНТУ (2019)
  • НТКП ВНТУ. Факультет інфокомунікацій, радіоелектроніки та наносистем (2019)
  • Перегляд НТКП ВНТУ. Факультет інфокомунікацій, радіоелектроніки та наносистем (2019) за темою
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Перегляд НТКП ВНТУ. Факультет інфокомунікацій, радіоелектроніки та наносистем (2019) за темою "chalcogenide glassy semiconductor (CGS)"

  • 0-9
  • A
  • B
  • C
  • D
  • E
  • F
  • G
  • H
  • I
  • J
  • K
  • L
  • M
  • N
  • O
  • P
  • Q
  • R
  • S
  • T
  • U
  • V
  • W
  • X
  • Y
  • Z
  • А
  • Б
  • В
  • Г
  • Д
  • Е
  • Ж
  • З
  • І
  • Ї
  • Ё
  • Й
  • К
  • Л
  • М
  • Н
  • О
  • П
  • Р
  • С
  • Т
  • У
  • Ф
  • Х
  • Ц
  • Ч
  • Ш
  • Щ
  • Э
  • Є
  • Ю
  • Я

Сортувати:

порядку:

Результатам:

Відображеня елементи 1-1 із 1

  • назва
  • дата публікації
  • дата завантаження
  • зростаючому
  • спадному
  • 5
  • 10
  • 20
  • 40
  • 60
  • 80
  • 100
    • Аналіз перемикання фазових станів плівки ХСН при зміні прикладеної напруги Un від часу t та опору аморфної фази R 

      Слободян, І. В.; Боржемський, С. Ю. (ВНТУ, 2019)
      У даній роботі наведено нові дані часового коливання параметрів комірок пам’яті таких, як порогова напруга Un та опір аморфної фази R. Отримані результати доповнюють інформацію про відхилення робочих параметрів пам’яті ...

      Інституційний репозиторій

      ГоловнаПошукДовідкаКонтактиПро нас

      Ресурси

      JetIQСайт бібліотекиСайт університетаЕлектронний каталог ВНТУ

      Перегляд

      Всі архівиСпільноти та колекціїЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоЯзыкУДКISSNВидання, що міститьDOIЦя колекціяЗа датою публікаціїАвторамиНазвамиТемамиТипВидавництвоЯзыкУДКISSNВидання, що міститьDOI

      Мій обліковий запис

      ВхідРеєстрація

      ISSN 2413-6360 | Головна | Відправити відгук | Довідка | Контакти | Про нас
      © 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
      Працює за підтримки 
      НТБ ВНТУ