Формування тестових стратегій покомпонентного пошуку несправностей в цифрових пристроях

Abstract

В даній роботі проаналізовано особливості формування тестових стратегій спрямованого пошуку несправностей у схемах цифрових пристроїв. З’ясовано умови реструктуризації схем цифрових пристроїв, які більш придатні до організації процесу тестування. Проаналізовано зміну показника глибини пошуку несправності в залежності від методу діагностування схеми ЦП.

This article analyzes the features of formation of test strategies aimed troubleshooting circuits in digital devices. The conditions of restructuring schemes for digital devices that are more suitable for the process of testing. Analyzed the change indicator depth troubleshooting, depending on the method of diagnosing circuit DD.