Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів
Автор
Михалевський, Д. В.
Mykhalevskiy, D. V.
Дата
2012Metadata
Показать полную информациюCollections
- Наукові роботи каф. ІКСТ [422]
Аннотации
В даній роботі запропоновано методику оцінки шумових характеристик для діодного вмикання інтегрального транзистора для проведення технологічного вихідного їх контролю за рівнем низькочастотних шумів Methodology of estimation of noise descriptions is offered in this work. These descriptions are used for
the diode including of integral transistors. It gives an opportunity to conduct technological control after the level
of low-frequency noise.
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/14883