Спосіб вимірювання вологості капілярно-пористих матеріалів
Author
Поджаренко, Володимир Олександрович
Куцевол, Микола Олександрович
Куцевол, Олег Миколайович
Поджаренко, Владимир Александрович
Podzharenko, Volodymyr Oleksandrovych
Date
2006-04-17Metadata
Show full item recordCollections
Abstract
Винахід належить до засобів вимірювальної техніки для визначення вологості капілярно-пористих матеріалів. Спосіб вимірювання вологості капілярно-пористих матеріалів полягає в визначенні діелектричної проникності матеріалу на частотах f1 і f2, додатковому вимірюванні тангенса кута діелектричних втрат на тих самих частотах та визначенні вологості матеріалу за різницею значень коефіцієнта діелектричних втрат, визначених на частотах f1 і f2, за умови f1<f2, за наданим математичним виразом. Винахід забезпечує підвищення точності вимірювань внаслідок усунення похибки від нестабільних діелектричних втрат капілярно-пористих матеріалів. Предлагаемый способ измерения влажности капиллярно-пористого материала заключается в том, что определяют диэлектрическую проницаемость материала на двух различных частотах контрольного сигнала, измеряют тангенс угла диэлектрических потерь в материале на указанных частотах, определяют разность тангенсов угла диэлектрических потерь на указанных частотах и используют полученные данные для определения влажности по заданной формуле. Настоящее изобретение позволяет повысить точность измерения за счет исключения погрешности, вызванной нестабильностью диэлектрических потерь в материале. The proposed method for measuring moisture content of capillary-porous material consists in determining the dielectric permittivity of the material at two different frequencies of the test signal, measuring dielectric loss tangent for the material at the said frequencies, determining the difference between the dielectric loss tangent values at the said frequencies, and using the data so obtained for determining the moisture content by a specified equation. The present invention provides a possibility to increase measurement accuracy by excluding the error that is caused by the instability of dielectric losses in material.
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/1621