Пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів
Аннотации
В даній статті розглянуто осболивості багатоемітерних інтегральних транзисторів. Розроблено пристрій для дослідження багатоемітерних інтегральних транзисторів. In article features of integrated battleship transistors. Developed device for the study of integrated battleship transistors.
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2017/paper/view/3005
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17557