Анализаторы производственных дефектов

Author
Месюра, В. И.
Котов, И. Н.
Роик, А. М.
Калашников, Э. М.
Месюра, В. І.
Роїк, О. М.
Date
1986
Metadata
Show full item record
Collections
Abstract
Рассмотрены основные принципы поэлементного диагностирования - нового подхода к диагностированию печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры в процессе ее производства. Приведены основные параметры разработанного анализатора производственных дефектов
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/17908
View/Open