Спосіб контролю та діагностування цифрових схем

Abstract

Спосіб контролю і діагностики цифрових схем полягає в тому, що на входи штучно виділених фрагментів схем об'єкта діагностики подають тестові впливи, реєструють вихідні відповідні реакції і порівнюють їх з еталонними значеннями. На входи штучно виділених фрагментів схем з однотипних елементів перед тестовими впливами подають сигнали, що встановлюють умови електричного захисту елементів пристрою, що перевіряється. Потім вимірюють значення сигналів на входах тестованих елементів, після чого за допомогою програмованого пристрою комутації замикають елементи виділеної групи паралельно між собою, і на входи утвореної паралельної структури подають тестові впливи, що відповідають конкретному типу елементів.

Способ контроля и диагностирования цифровых схем заключается в том, что на входы искусственно выделенных фрагментов схем объекта диагностирования подают тестовые воздействия, регистрируют выходные ответные реакции и сравнивают их с эталонными значениями. На входы искусственно выделенных фрагментов схем из однотипных элементов перед тестовыми воздействиями подают сигналы, устанавливающие условия электрической защиты элементов проверяемого устройства. Затем измеряют значения сигналов на входах тестируемых элементов, после чего с помощью программируемого устройства коммутации замыкают элементы выделенной группы параллельно между собой, и на входы образованной параллельной структуры подают тестовые воздействия, соответствующие конкретному типу элементов.

Method for control and diagnostics of digital circuits is in fact that to inputs of artificially separated fragments of circuits of object of diagnostics one feeds test effects with registration of output reply reactions with comparison of those to standard values. To inputs of artificially separated fragments of circuits of elements of same type before test effect one gives signals that set conditions of electric protection of elements of unit being checked. After that one measures values of signals at inputs of tested elements, after that by means of programmed switch unit one closes elements of separated group I parallel to each other and to inputs of parallel structure formed one applies test effects that correspond to specific type of elements.