• English
    • українська
  • English 
    • English
    • українська
  • Login
View Item 
  • Frontpage
  • Патенти, авторські свідоцтва
  • Патенти (ВДТУ)
  • View Item
  • Frontpage
  • Патенти, авторські свідоцтва
  • Патенти (ВДТУ)
  • View Item
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Спосіб вимірювання основних параметрів паралельних резонансних контурів

Author
Рудик, Андрій Вікторович
Рудык, Андрей Викторович
Rudyk, Andrii Viktorovych
Date
2003-07-15
Metadata
Show full item record
Collections
  • Патенти (ВДТУ) [339]
Abstract
Спосіб вимірювання основних параметрів паралельних резонансних контурів, при якому в послідовному колі з досліджуваного паралельного резонансного контуру та зразкового опору на двох частотах вимірюють значення кута фазового зсуву між напругами на цих елементах, згідно з винаходом на одній з двох частот додатково вимірюють відношення амплітуд напруг на досліджуваному паралельному резонансному контурі та зразковому опорі, а значення основних параметрів паралельного резонансного контуру визначають за формулами.
 
В соответствии с настоящим изобретением предлагается способ измерения основных параметров параллельного резонансного контура, который заключается в том, что исследуемый контур включают последовательно с эталонным резистором, определяют фазовый сдвиг между напряжением на контуре и напряжением на эталонном резисторе. Предлагаемый способ отличается тем, что дополнительно определяют отношение указанных напряжений на двух различных частотах. Результаты измерений используются для определения основных параметров контура с помощью заданных формул.
 
According to the present invention, a method for measuring main parameters of a parallel resonance circuit is proposed that consists in connecting the tested resonance circuit in series with a reference resistor and measuring the phase shift between the voltages across the resonance circuit and the reference resistor. A distinguishing feature of the proposed method consists in additionally measuring the ratio between the said voltages at two different frequencies. The measurement results are used for determining the main parameters of the resonance circuit from specified formulae.
 
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/21760
View/Open
57836.pdf (210.1Kb)

Institutional Repository

FrontpageSearchHelpContact UsAbout Us

University Resources

JetIQLibrary websiteUniversity websiteE-catalog of VNTU

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOIThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOI

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Frontpage | Send Feedback | Help | Contact Us | About Us
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ