Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorКузнєцов, М. В.uk
dc.contributor.authorДудатьєв І. А.uk
dc.date.accessioned2019-12-05T10:46:47Z
dc.date.available2019-12-05T10:46:47Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.citationКузнєцов М. В. Визначення методі і розробка пристрою обчислення густини мікродефектів в напівпровідникових пластинах кремнію [Електронний ресурс] / М. В. Кузнєцов, І. А. Дудатьєв // Матеріали XLVIII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 13-15 березня 2019 р. – Електрон. текст. дані. – 2019. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fksa/all-fksa-2019/paper/view/7815.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/27203
dc.description.abstractВиявлення свирлевих дифектів.uk
dc.description.abstractDetection of spider-like distortionsen
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherВНТУuk
dc.relation.ispartofМатеріали XLVIII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 13-15 березня 2019 р.uk
dc.relation.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fksa/all-fksa-2019/paper/view/7815
dc.subjectмікродефектuk
dc.subjectгустина мікродифектівuk
dc.subjectmicrodefecten
dc.subjectdensity of microprocessorsen
dc.titleВизначення методі і розробка пристрою обчислення густини мікродефектів в напівпровідникових пластинах кремніюuk
dc.typeThesis
dc.identifier.udc621.315.592
dc.relation.referenceswww.atmu.net.ua/downloads/archive/sb2-13s.pdf
dc.relation.referenceshttps://patonpublishinghouse.com/as/pdf/2017/as201707all.pdf
dc.relation.referencesx-ray.net.ua/downloads/prints/referat/kv-referat.pdf


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію