• English
    • українська
  • English 
    • English
    • українська
  • Login
View Item 
  • Frontpage
  • Періодичні видання ВНТУ
  • Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології
  • Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. 2022. № 1
  • View Item
  • Frontpage
  • Періодичні видання ВНТУ
  • Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології
  • Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. 2022. № 1
  • View Item
Сайт інституційного репозитарію ВНТУ містить роботи, матеріали та файли, які були розміщені докторантами, аспірантами та студентами Вінницького Національного Технічного Університету. Для розширення функцій сайту рекомендується увімкнути JavaScript.

Simulation of the depth of the melted layer on the surface of a semiconductor using Java cross-platform application

Author
Galochkin, O. V.
Uhryn, D. I.
Vatamanitsa, E. V.
Vsoltys, I. V.
Date
2022
Metadata
Show full item record
Collections
  • Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. 2022. № 1 [11]
Abstract
В роботі описано метод одержання p-n переходів за рахунок лазерної перекристалізації поверхні напівпровідникових зразків CdTe, а також розроблений на мові Java програмний додаток, який дозволяє моделювати теплові процеси на межі розділу епітаксийний шарпідкладка при лазерному опроміненні поверхні напівпровідника. Він дозволяє робити прогнози стосовно товщини проплавленого шару, що буде впливати на параметри приладів, виготовлених на базі одержаних бар’єрних шарів. Проведено теоретичне моделювання процесів, які відбуваються при поглинанні лазерного випромінювання приповерхневим шаром напівпровідника.
 
The paper describes a method for obtaining p-n transitions due to the laser recrystallization of the surface of CdTe semiconductor samples, as well as a software application developed in Java that allows the simulation of thermal processes at the boundary of the epitaxial layer-substrate with laser irradiation of the semiconductor surface. It allows to make predictions regarding the thickness of the melted layer, which will affect the parameters of the devices made on the basis of the obtained barrier layers. The theoretical modeling of the processes taking place at absorption of laser radiation by the surface layer of a semiconductor is carried out.
 
URI:
http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/36205
View/Open
76-81.pdf (736.6Kb)

Institutional Repository

FrontpageSearchHelpContact UsAbout Us

University Resources

JetIQLibrary websiteUniversity websiteE-catalog of VNTU

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOIThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypePublisherLanguageUdcISSNPublicationDOI

My Account

LoginRegister

Statistics

View Usage Statistics

ISSN 2413-6360 | Frontpage | Send Feedback | Help | Contact Us | About Us
© 2016 Vinnytsia National Technical University | Extra plugins code by VNTU Linuxoids | Powered by DSpace
Працює за підтримки 
НТБ ВНТУ