Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь
| dc.contributor.author | Овчинников, Костянтин Вячеславович | uk |
| dc.contributor.author | Кривогубченко, Сергій Григорович | uk |
| dc.contributor.author | Іванов, Юрій Юрійович | uk |
| dc.date.accessioned | 2023-04-28T12:10:46Z | |
| dc.date.available | 2023-04-28T12:10:46Z | |
| dc.date.issued | 2022-11-02 | |
| dc.identifier | 152125 | |
| dc.identifier.citation | Пат. 152125 UA, МПК G01B 5/06. Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь [Текст] / К. В. Овчинников, С. Г. Кривогубченко, Ю. Ю. Іванов (Україна). – № u 202106551 ; заявл. 19.11.2021 ; опубл. 02.11.2022, Бюл. № 44. – 3 с. | uk |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua//handle/123456789/36913 | |
| dc.language.iso | uk_UA | uk_UA |
| dc.publisher | Державне підприємство «Український інститут інтелектуальної власності» (Укрпатент) | uk |
| dc.subject | G01B 5/06 | |
| dc.subject | вимірювання | uk |
| dc.subject | товщина покриття | uk |
| dc.title | Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь | uk |
| dc.type | Patent |