Оцінювання залежності часу затримки перемикання на базі аморфних напівпровідників

Abstract

Запропоновано алгоритм для оцінювання залежності часу затримки перемикаючого пристрою на базі аморфних напівпровідників від температури та концентрації пасток захоплення.

An algorithm for estimating the dependence of the delay time of a switching device based on amorphous semiconductors on the temperature and concentration of capture traps is proposed.