Визначення вторинних критеріїв та індикаторів подібності в задачах моделювання оптимальних станів систем

Abstract

Розглядаються способи визначення вторинних критеріїв та індикаторів подібності для встановлення параметричної подібності в досліджуваному процесі. Показано, що за допомогою вторинних критеріїв та індикаторів подібності можуть розв’язуватися задачі оптимізації станів систем.