Математична модель процесу пошкодження (електричного пробою) епоксидних вводів вимикачів леп 750 кв
Author
Собчук, В. С.
Собчук, Н. В.
Кондаков, Ю. В.
Date
2007Metadata
Show full item recordCollections
Abstract
Розглянуто та досліджено процес електричного пробою епоксидних вводів. Розроблено математичну модель процесу їх пошкодження. Виявлено, що канали електричного пробою в епоксидних вводах ВВБ 750 кВ є наслідком порушення конструктивної координації ізоляції і кумулятивного ефекту від серії грозових імпульсів від блукаючих хвиль. Рассмотрен и исследован процесс электрического пробоя эпоксидных вводов. Разработана математическая модель процесса их повреждения. Выявлено, что каналы электрического пробоя в эпоксидных вводах ВВБ 750 кВ являются результатом нарушения конструктивной координации изоляции и кумулятивного эффекта от серии грозовых импульсов от блуждающих волн. The electrical breakdown process of circuit-breaker epoxy bushing has been considered and has been investigated in the given article. The damage process simulator has been presented. It was discovered that electrical breakdown channels in circuit-breaker epoxy bushing are the outcome of both constructive coordination of insulation fault and cumulative effect that is received from stray wave lightning impulse string.
URI:
http://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/434
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/5658