Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorОсадчук, Олександр Володимировичuk
dc.contributor.authorНікешин, Юрій Ігоровичuk
dc.contributor.authorОсадчук, Александр Владимировичru
dc.contributor.authorНикешин, Юрий Игоревичru
dc.contributor.authorOsadchuk, Oleksandr Volodymyrovychen
dc.contributor.authorNikeshyn, Yurii Ihorovychen
dc.date.accessioned2015-04-28T08:05:25Z
dc.date.available2015-04-28T08:05:25Z
dc.date.issued2012-01-25
dc.identifier66947
dc.identifier.citationПат. 66947, МПК H01L 21/66, G01R 31/26. Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору [Текст] / О. В. Осадчук, Ю. І. Нікешин (Україна). - № u201108127 ; заявл. 29.06.2011 ; опубл. 25.01.2012, Бюл. № 2. - 2 с. : кресл.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/617
dc.description.abstractМікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності і ємність, яка підключена до джерела живлення. В нього введено чотири зонди, друге джерело живлення, два резистори, біполярний транзистор та польовий транзистор.uk
dc.description.abstractМикроэлектронное четырехзондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивления содержит катушку индуктивности и емкость, которая подключена к источнику питания. В него введены четыре зонда, второй источник питания, два резистора, биполярный транзистор и полевой транзистор.ru
dc.description.abstractA microelectronic four-probe device for measurement of semiconductor resistance comprises an inductance coil and a capacitor connected to a power source. Four probes, a second power source, two resistors, a bipolar transistor and a field-effect transistor are incorporated.en
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДержавне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ)uk
dc.subjectH01L 21/66
dc.subjectG01R 31/26
dc.subjectвимірювальна технікаuk
dc.subjectелектрофізичні параметри матеріалівuk
dc.subjectмікроелектронний пристрійuk
dc.subjectвимірювання напівпровідникового опоруuk
dc.titleМікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опоруuk
dc.title.alternativeМикроэлектронное четырех-зондовое устройство для измерения полупроводникового сопротивленияru
dc.title.alternativeMicroelectronic four-probe device for measurement of semiconductor resistanceen
dc.typeOther


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію