Засіб вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників
Автор
Осадчук, О. В.
Барабан, С. В.
Криночкін, Р. В.
Дата
2012Metadata
Показать полную информациюCollections
Аннотации
Запропоновано апаратно-програмну реалізацію засобу вхідного контролю молекулярної структури некристалічних напівпровідників на основі частотних вимірювальних перетворювачів. Проведено аналіз основних метрологічних характеристик розробленого засобу вхідного контролю. Предложена аппаратно-программная реализация средства входного контроля молекулярной структуры некристаллических полупроводников на основе частотных измерительных преобразователей. Проведен анализ основных метрологических характеристик разработанного средства входного контроля. Hardwarily-programmatic realization of means of entrance control of molecular structure of noncrystalline semiconductors is offered on the basis of frequency measuring transformers. The analysis of basic metrology descriptions of the worked out means of entrance control is conducted.
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://visnyk.vntu.edu.ua/index.php/visnyk/article/view/1348
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/7483