Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь
Автор
Кучерук, В. Ю.
Овчинников, К. В.
Дата
2011Metadata
Показать полную информациюCollections
- Наукові роботи каф. ІРТС [778]
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8097