Показати скорочену інформацію

dc.contributor.authorФілинюк, М. А.uk
dc.contributor.authorГаврілов, В. Д.uk
dc.contributor.authorФранк, С. М.uk
dc.contributor.authorОгородник, К. В.uk
dc.date.accessioned2016-02-22T13:49:07Z
dc.date.available2016-02-22T13:49:07Z
dc.date.issued2003-05
dc.identifier.citationНові методи вимірювання параметрів багатоелектродних негатронів [Текст] / М. А. Філтнюк, В. Д. Гаврілов, С. М. Франк, К. В. огородник // Современные информационные и электронные технологии : труды четвертой международной научно-практической конференции, 19–23 мая 2003. – Одесса : Одесский национальный политехнический университет, ОАО “Нептун”, 2003. – С. 329.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/8569
dc.description.abstractРозглядаються методи вимірювання параметрів багатоелектродних негатронівuk
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherОдесский национальный политехнический университетru
dc.subjectнегатронuk
dc.subjectімпедансuk
dc.subjectвід'ємний опірuk
dc.subjectповний опірuk
dc.subjectкоефіцієнт підсиленняuk
dc.titleНові методи вимірювання параметрів багатоелектродних негатронівuk
dc.typeThesis


Файли в цьому документі

Thumbnail

Даний документ включений в наступну(і) колекцію(ї)

Показати скорочену інформацію