Now showing items 1-1 of 1

    • Анализаторы производственных дефектов 

      Месюра, В. И.; Котов, И. Н.; Роик, А. М.; Калашников, Э. М.; Месюра, В. І.; Роїк, О. М. (Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований Министерства заготовок СССР, 1986)
      Рассмотрены основные принципы поэлементного диагностирования - нового подхода к диагностированию печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры в процессе ее производства. Приведены основные параметры разработанного анализатора ...