Now showing items 1-5 of 5

    • Двокаскадний мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору з частотним виходом 

      Осадчук, Олександр Володимирович; Нікешин, Юрій Ігорович; Осадчук, Ярослав Олександрович; Червак, Оксана Петрівна; Осадчук, Александр Владимирович; Никешин, Юрий Игоревич; Осадчук, Ярослав Александрович; Червак, Оксана Петровна; Osadchuk, Oleksandr Volodymyrovych; Nikeshyn, Yurii Ihorovych; Osadchuk, Yaroslav Oleksandrovych; Chervak, Oksana Petrivna (Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2015-07-27)
      Двокаскадний мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору з частотним виходом включає ємність, котушку індуктивності, вимірювач різниці частот, джерело живлення, а також рамку – тримач, ...
    • Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору 

      Нікешин, Юрій Ігорович; Осадчук, Олександр Володимирович; Никешин, Юрий Игоревич; Осадчук, Александр Владимирович; Nikeshyn, Yurii Ihorovych; Osadchuk, Oleksandr Volodymyrovych (Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2013-01-10)
      Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності, яка підключена до джерела живлення. Введено чотири зонди. Другий та третій з'єднані з біполярним транзистором. ...
    • Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору 

      Осадчук, Олександр Володимирович; Нікешин, Юрій Ігорович; Осадчук, Александр Владимирович; Никешин, Юрий Игоревич; Osadchuk, Oleksandr Volodymyrovych; Nikeshyn, Yurii Ihorovych (Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2012-01-25)
      Мікроелектронний чотиризондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності і ємність, яка підключена до джерела живлення. В нього введено чотири зонди, друге джерело живлення, два ...
    • Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору 

      Нікешин, Юрій Ігорович; Осадчук, Олександр Володимирович; Никешин, Юрий Игоревич; Осадчук, Александр Владимирович; Nikeshyn, Yurii Ihorovych; Osadchyk, Oleksandr Volodymyrovych (Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2012-04-10)
      Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності і ємність, яка підключена до джерела живлення. Введено шість зондів, друге та третє джерело живлення, два ...
    • Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору 

      Нікешин, Юрій Ігорович; Осадчук, Олександр Володимирович; Никешин, Юрий Игоревич; Осадчук, Александр Владимирович; Nikeshyn, Yurii Ihorovych; Osadchuk, Oleksandr Volodymyrovych (Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2012-11-12)
      Мікроелектронний шестизондовий пристрій для вимірювання напівпровідникового опору містить котушку індуктивності, яка підключена до джерела живлення. Введено шість зондів, активний індуктивний елемент, друге та третє джерело ...