Искать
Отображаемые элементы 1-10 из 16
Метод спектрального прогнозування надійності виробів електронної техніки за рівнем НЧ шуму
(Хмельницький національний університет, 2008)
В даній роботі запропоновано метод прогнозування надійності виробів електронної техніки ізвикористанням цифрової фільтрації. Особливістю даного методу є оцінка рівня шумової напруги в низькочастотному діапазоні, де ...
Дослідження шумових характеристик інтегральних діодів
(Хмельницький національний університет, 2012)
В даній роботі запропоновано методику оцінки шумових характеристик для діодного вмикання інтегрального транзистора для проведення технологічного вихідного їх контролю за рівнем низькочастотних шумів
Оцінка невизначеності при операціях контролю виробів електронної техніки за рівнем власних шумів
(Хмельницький національний університет, 2012)
В даній роботі запропоновано методику оцінки невизначеності для засобу безпосереднього контролю виробів електронної техніки за рівнем власних шумів. Це дає можливість проводити дослідження розсіювання інформативного параметру ...
Оцінка рівня шуму при аналізі телекомунікаційних сигналів
(Севастопольський національний технічний університет, 2012)
Іn this work offered approach with the use of wavelet transformations for the operations rating level of noise in the analysis of telecommunication signals
Метод контролю якості виробів електронної техніки за НЧ шумами
(Дніпропетровськ : Наука і освіта, 2006)
В даній рботі розроблено метод контролю виробів електронної техніки, який використовує як фізико-технічні методи так і статистичні.
Вдосконалення методу контролю біполярних транзисторів за рівнем власних шумів
(Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича, 2012)
В даній роботі проводиться аналіз шумових характеристик біполярних транзисторів в області середніх частот з метою розширення можливостей методу вхідного та вихідного контролю за рівнем власних шумів.
Спосіб контролю надійності операційних підсилювачів за рівнем нч шуму.
(Севастопольский национальный технический университет, 2010)
Abstract — the method of control of reliability of op-amps is worked out after the level of low-frequency noise.
Вплив зворотного зв'язку на шумові характеристики транзистора в низькочастотному діапазоні
(ВНТУ, 2007)
В даній роботі запропоновано шумову модель транзистора із врахуванням впливу зворотнього зв’язку на шумові характеристики для низькочастотного діапазону
Шумова модель інтегральних діодів для діапазону низьких частот
(ВНТУ, 2011)
В даній роботі запропоновано еквівалентну шумову модель інтегрального діода
Визначення низькочастотних шумових характеристик багатоемітерних транзисторів
(ВНТУ, 2006)
В даній роботі запропоновано шумову модель багатоемітерного транзистора для операцій технологічного контролю за рівнем НЧ шуму