Перегляд НТКП ВНТУ. Факультет комп'ютерних систем і автоматики (2019) по УДК "621.315.592"
Відображеня елементи 1-1 із 1
-
Визначення методі і розробка пристрою обчислення густини мікродефектів в напівпровідникових пластинах кремнію
(ВНТУ, 2019)Виявлення свирлевих дифектів.

