Пошук
Відображеня елементи 1-10 із 13
In-Circuit Measurement of Complex Circuits Parameters With Electrical Separation by Iteration Method
(University of Suceava, 2003)
In the paper the use of iterative methods in the problems of elements parameters measurement in structure of multi-terminal electrical circuits is considered. In the correspondence with it the iterative processes of an ...
Space Quality Indexes Optimization for Systems of a Complex Objects Technical State Recognition
(Вінницький державний технічний університет, 2002)
In the paper the problem of space quality indexes optimization for systems of а complex objects technical state recognition is considered. Thus the goal function of the optimization problem is offered, for which construction ...
Approach tj the In-Circuit Testers Training for Electronic Devices Identification
(1995)
Algorithms of synthesis of test actions must provide given trustwortliiness and completeness of test relatively to considered class of unit under test (UUT) faults. Efficiency of such algorithms in the decisive degree is ...
Knowledge-Based Algorithm of Hybrid Electronic Devices Identification
(1996)
The algorithm of in-circuit components' and electric connections’ identification into printed circuit boards (PCB) of the hybrid electronic devices (which include in their composition both analog and digital components) ...
Вимірювання параметрів багатополюсних ланцюгів для задач діагностування радіоелектронних приладів
(Вінницький державний технічний університет, 1998)
Розглянуто метод підвищення точності вимірювання сильно зашунтованих пасивних двухполюсніков у складі складних ланцюгів. Підвищення точності досягається за рахунок використання конвертера негативного імпедансу.
Структурно-алгоритмічні методи корекції похибок перетворень параметрів елементів замкнених кіл
(2001)
Запропоновано комбінований метод корекції мультиплікативної складової похибки перетворень параметрів пасивних двополюсників в складних електричних колах. Даний метод передбачає комбінування методів заміщення і мультиплікативного ...
Анализаторы производственных дефектов
(Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований Министерства заготовок СССР, 1986)
Рассмотрены основные принципы поэлементного диагностирования - нового подхода к диагностированию печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры в процессе ее производства. Приведены основные параметры разработанного анализатора ...
Настольные тестеры для поэлементного диагностирования печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры
(1988)
Рассматривается новый вид настольной диагностической аппаратуры, предназначенной для поэлементного тестирования печатных плат радиоэлектронной аппаратуры. Детально поясняются принципы измерения параметров отдельных пассивных ...
Вероятностно-статистический метод повышения точности измерительных преобразователей
(ЦНИИ «Инфракон», 1991)
Предлагается математическая модель для вычисления оценок ошибок 1-го и 2-го рода при поэлементном диагностировании печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры с учетом ошибок измерительно-преобразовательного тракта.
Использование функционально-алгебраических моделей для идентификации цифровых компонентов
(1994)
Предлагаются функционально-алгебраические модели для компактного описания цифровых компонентов. Дополнительным преимуществом модели является возможность представления цифровых компонентов в виде совокупности одновыходных ...