Искать
Отображаемые элементы 1-1 из 1
Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці
(ВНТУ, 2007)
Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ...

