Искать
Отображаемые элементы 1-1 из 1
Математична модель процесу пошкодження (електричного пробою) епоксидних вводів вимикачів леп 750 кв
(ВНТУ, 2007)
Розглянуто та досліджено процес електричного пробою епоксидних вводів. Розроблено математичну модель процесу їх пошкодження. Виявлено, що канали електричного пробою в епоксидних вводах ВВБ 750 кВ є наслідком порушення ...