Search
Now showing items 1-10 of 15
Мікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2013-10-25)
Мікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках містить генератор спарених імпульсів, що складається з двох генераторів прямокутних імпульсів та лінії затримки, обмежувача імпульсів.
Пристрій для визначення дрейфової рухливості неосновних носіїв заряду
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2014-07-25)
Пристрій для визначення дрейфової рухливості неосновних носіїв заряду містить зразок, генератор прямокутних імпульсів напруги та генератор струму, що паралельно з'єднані між собою, та батарейку. В пристрій додатково введено ...
Мікроелектронний пристрій для визначення товщини епітаксіальних шарів в напівпровідниках
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2014-07-25)
Мікроелектронний пристрій для визначення товщини епітаксіальних шарів в напівпровідниках містить джерело світла та епітаксіальну структуру, що послідовно з'єднані між собою. Додатково в нього введено блок обробки та індикації ...
Мікроелектронний пристрій для вимірювання EPC Холла при постійному струмі та магнітному полі
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2014-06-25)
Мікроелектронний пристрій для вимірювання ЕРС Холла при постійному струмі та магнітному полі містить джерело постійної напруги та міліамперметр, які паралельно з'єднані зі зразком прямокутної форми, який знаходиться між ...
Мікроелектронний пристрій для визначення дифузійної довжини неосновних носіїв заряду в напівпровідниках
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2009-12-25)
Мікроелектронний пристрій для визначення дифузійної довжини неосновних носіїв заряду в напівпровідниках, до якого введено блок обробки та індикації сигналу, мікроелектронний частотний перетворювач, що містить перший та ...
Пристрій для вимірювання струму Холла
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2015-04-27)
Пристрій для вимірювання струму Холла містить послідовно з'єднані зразок, джерело напруги та амперметр, а також перший та другий резистори, паралельно з'єднані між собою. Додатково в пристрій введено блок обробки та індикації ...
Пристрій для вимірювання ЕРС Холла при постійному струмі та магнітному полі
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2014-05-12)
Пристрій для вимірювання ЕРС Холла при постійному струмі та магнітному полі містить джерело постійної напруги та міліамперметр, які паралельно з'єднані зі зразком прямокутної форми, який розміщено між полюсами постійного ...
Мікроелектронний пристрій для контролю параметрів оптично прозорих напівпровідників
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2009-08-10)
Мікроелектроний пристрій для контролю параметрів оптично прозорих напівпровідників містить джерело світла, фокусуючу систему, джерело живлення, систему контактів, мікроелектронний частотний перетворювач, дільник напруги, ...
Пристрій для визначення дифузійної довжини неосновних носіїв заряду
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2014-04-25)
Пристрій для визначення дифузійної довжини неосновних носіїв заряду містить джерело світла, оптичну систему, барабан з щілинами, світлофільтр, щілинну діафрагму, що послідовно з'єднані між собою, та зразок. Блок реєстрації ...
Мікроелектронний пристрій для визначення дрейфової рухливості неосновних носіїв заряду
(Державне підприємство "Український інститут промислової власності" (УКРПАТЕНТ), 2014-07-25)
Мікроелектронний пристрій для визначення дрейфової рухливості неосновних носіїв заряду містить зразок, генератор прямокутних імпульсів напруги та генератор струму, що паралельно з'єднані між собою, батарейку, блок обробки ...