Особливості формування компонентних структур тестування для систем внутрішньосхемного пошуку несправностей цифрових пристроїв

Abstract

Проаналізовано особливості формування компонентних структур на основі міжфрагментних відносин схем цифрових пристроїв (ЦП). З’ясовано, що в процесі побудови підсхем тестування спостерігаються випадки наявності елементів з незадіяними зв’язками. Такі ситуації змушують прийняти рішення про повторне формування компонентів або включення таких елементів до складу кінцевої структури розбиття схеми ЦП. В статті розглянуто властивості гіперграфів, як моделей компонентних структур, розроблено механізми інтеграції (деінтеграції) елементів з незадіяними зв’язками до складу кінцевої структури тестування. Запропоновано критерії оцінки таких можливостей для формування підструктур схем ЦП.Проанализированы особенности формирования компонентных структур на основе межфрагментных отношений схем цифровых устройств (ЦУ). Выяснено, что в процессе построения подсхем тестирования наблюдаются случаи наличия элементов с незадействованными связями. Такие ситуации заставляют принять решение о повторном формировании компонентов или включении таких элементов в состав конечной структуры разбиения схемы ЦУ. В статье рассмотренные свойства гиперграфов, как моделей компонентных структур, разработаны механизмы интеграции (деинтеграции) элементов с незадействованными связями в состав конечной структуры тестирования. Предложены критерии оценки таких возможностей для формирования подструктур схем ЦП.This paper analyzes the features of formation of component-based structures relations of fragments of schemes for digital devices. It was found that in the process of constructing subcircuits test cases with elements of idle connections are observed. Such situation makes a decision on re-formation of the inclusion of such components or elements of the final structure of the scheme partition. Properties of hypergraphs, as the models of component structures are considered in the article The article elaborated the mechanisms of integration (deintegration) of elements with idle connections in the final structure of the test. The criteria of estimation of such possibilities for forming of sub-structures of CPU charts are suggested in the paper.