<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Підвищення вірогідності неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorОсадчук, О. В.uk
dc.contributor.authorБарабан, С. В.uk
dc.contributor.authorСеменов, А. О.uk
dc.contributor.authorOsadchuk, O. V.
dc.contributor.authorBaraban, S. V.
dc.contributor.authorSemenov, A. O.
dc.titleПідвищення вірогідності неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідниківuk
dc.title.alternativeIncreasing the reliability of nondestructive testing of structural transformations in noncrystalline semiconductorsen
dc.date.issued2012
dc.publisherХмельницький національний університетuk
dc.identifier.citationОсадчук О. В. Підвищення вірогідності неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників [Текст] / О. В. Осадчук, C. В. Барабан, А. О. Семенов // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. - 2012. - № 2. - С. 79-82.uk
dc.identifier.issn2219-9365
dc.identifier.udc658.562.42
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9202
dc.description.abstractУ  роботі  розв’язано  важливу  науково‐практичну  проблему,  яка  полягає  в  створенні  методів  і  засобів неруйнівного  контролю  структурних  перетворень  некристалічних  напівпровідників,  що  дозволяють  підвищити вірогідність  контролю.  Проведено  оцінювання  вірогідності  контролю  при  реалізації  методу  неруйнівного  контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників на основі диференційно‐термічного аналізу.uk
dc.description.abstractIn this wok an important scientific and practical problem has been solved. It is creating methods and facilities of an  uncrystalline  semiconductors  structure  transformation  non‐destroying  control,  which  allows  a  control  reliability increasing.  The  control  reliability  has  been  estimated  while  realizing  the  method  of  the  uncrystalline  semiconductors structure transformation non‐destroying control based on differential‐thermal analysis. en
dc.subjectнеруйнівний контрольuk
dc.subjectвірогідністьuk
dc.subjectавтогенераторuk
dc.subjectнекристалічні напівпровідникиuk
dc.subjectмоделюванняuk
dc.subjectnon-destructive testingen
dc.subjectreliabilityen
dc.subjectself-oscillatoren
dc.subjectnon-crystalline semiconductorsen
dc.subjectmodelingen
dc.typeArticle
dc.language.isoukuk
dc.date.accessioned2016-03-23T11:44:20Z
dc.date.available2016-03-23T11:44:20Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
Pidvushennia_virogidnisti.pdf
Розмір:
395,07 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Стаття
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2,14 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Наукові видання каф. ІРТС