Підвищення вірогідності неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників

Abstract

У роботі розв’язано важливу науково‐практичну проблему, яка полягає в створенні методів і засобів неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників, що дозволяють підвищити вірогідність контролю. Проведено оцінювання вірогідності контролю при реалізації методу неруйнівного контролю структурних перетворень некристалічних напівпровідників на основі диференційно‐термічного аналізу.

In this wok an important scientific and practical problem has been solved. It is creating methods and facilities of an uncrystalline semiconductors structure transformation non‐destroying control, which allows a control reliability increasing. The control reliability has been estimated while realizing the method of the uncrystalline semiconductors structure transformation non‐destroying control based on differential‐thermal analysis.