<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Засоби тестування оперативної пам’яті комп’ютера

dc.contributor.authorСтрілковський, В. С.uk
dc.contributor.authorКолесник, І. С.uk
dc.contributor.authorОчкуров, М. А.uk
dc.contributor.authorKolesnyk, I. S.en
dc.contributor.authorOchkurov, M. A.en
dc.titleЗасоби тестування оперативної пам’яті комп’ютераuk
dc.date.issued2025
dc.publisherВінницький національний технічний університетuk
dc.identifier.citationСтрілковський В. С., Колесник І. С., Очкуров М. А. Засоби тестування оперативної пам’яті комп’ютера // Матеріали Всеукраїнської науково-практичної інтернет-конференції «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2025)», Вінниця, 15-16 червня 2025 р. Електрон. текст. дані. 2025. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2025/paper/view/23009.uk
dc.relation.ispartofМатеріали Всеукраїнської науково-практичної інтернет-конференції «Молодь в науці: дослідження, проблеми, перспективи (МН-2025)», Вінниця, 15-16 червня 2025 р.uk
dc.relation.urihttps://conferences.vntu.edu.ua/index.php/mn/mn2025/paper/view/23009
dc.identifier.isbn978-617-8163-57-0
dc.identifier.udc004.33
dc.identifier.urihttps://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/47917
dc.description.abstractЗапропоновано підхід до тестування запам’ятовуючого пристрою комп’ютера в умовах експлуатації.uk
dc.description.abstractThe approach to testing a random-accessed computer memory in operating conditions.en
dc.subjectзапам’ятовуючий пристрійuk
dc.subjectмоделі несправностіuk
dc.subjectпослідовність тестуванняuk
dc.subjectструктура програмиuk
dc.subjectrandom-access memoryen
dc.subjectmodel of faultsen
dc.subjecttesting sequenceen
dc.subjectprogram structureen
dc.typeThesis
dc.language.isoukuk
dc.relation.referencesO'Regan G. Concise Guide to Software Testing. / G. O'Regan. — New York: Springer, 2019. — 309 p.en
dc.relation.referencesМатвієнко М. П. Архітектура комп’ютера. Навчальний посібник. / М. П. Матвієнко, В. П. Розен, О. М. Закладний — К: Видавництво Ліра-К, 2016. — 264 с.uk
dc.relation.referencesYarmolik V. N., Mrozek I., Yarmolik S. V. Pseudo-exhaustive memory testing based on March A tests. Informatics, 2020, № 2(17), рр. 54–70.en
dc.relation.referencesMrozek, I. Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults / I. Mrozek. – Cham : Springer International Publishing AG, 2019. – 135 p.en
dc.relation.referencesRyabtsev V.G. New Technology for Memory Tests Design / V.G. Ryabtsev, M.K. Almadi // International Journal of Modern Trends in Engineering and Research (IJMTER). Volume 02, Issue 06, 2015. – P. 520–526.en
dc.relation.referencesКоноваленко І. В. Програмування мовою C# 6.0 : навчальний посібник / І. В. Коноваленко.– Тернопіль : ТНТУ, 2017. – 300 с.uk
dc.date.accessioned2025-08-13T09:37:43Z
dc.date.available2025-08-13T09:37:43Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
23009.pdf
Розмір:
572,57 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
17 B
Формат:
Plain Text
Опис: