Засіб вимірювання товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь

Abstract

Для вирішення поставленої задачі були проаналізовані методи та засоби, які сьогодні використовуються для вимірювання товщини покриттів. Серед інших в якості основи обраний ємнісний метод, як такий, що забезпечує найбільшу чутливість в заданому діапазоні товщини. Проаналізовані аналогічні прилади, розроблена структура засобу вимірювання на базі комутаційної схеми вимірювання ємності, На базі структурної схеми розроблена функціональна схема пристрою, яка дозволила визначитись з основними електронними компонентами, що були використані в схемі. Розроблена принципова схема засобу вимірювання. Були оцінені основні метрологічні характеристики, серед яких чутливість, яка не перевищила значення 3,98·106 м-1. Проведені економічні розрахунки, які підтверджують доцільність нової розробки.