Аналіз зображень в оптоелектронній cистемі з кореляційною матрицею
Вантажиться...
Файли
Дата
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Анотація
In the paper the analysis of images in the optoelectronic system is considered. The process is implemented on the base node of the optoelectronic system on the correlation matrix.
Опис
Ключові слова
УДК
Тип документа
Мова
ISSN
Бібліографічний опис
Фащілін С. М. Аналіз зображень в оптоелектронній cистемі з кореляційною матрицею [Електронний ресурс] / С. М. Фащілін // Матеріали XLVIII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 13-15 березня 2019 р. – Електрон. текст. дані. – 2019. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fksa/all-fksa-2019/paper/view/7761.
Схвалення
Рецензія
Доповнено
Цитується в
Список використаної літератури (3)
- Мартинюк Т. Б. Реалізаційна моделі оптоелектронного корелятора. / Т. Б. Мартинюк, А. В. Кожем’яко, М. Г. Тарновський, Д. О. Шаромов // Інформаційні технології та комп’ютерна інженерія. – 2017. – №2 ( 39 ). – с. 53-59. – ISSN 1999 – 9941.
- Мартинюк Т. Б. Нормалізована кореляційна обробка двовимірних зображень. / Т. Б. Мартинюк, А. В. Кожем’яко, І. Ю. Видмиш, Д. О. Шаромов // Інформаційні технології та комп’ютерна інженерія. – 2016. – №3 ( 37 ). – с. 44-50. – ISSN 1999 – 9941.
- Мартинюк Т. Б. Нормалізована кореляційна обробка на оптоелектронному кореляторі. / Т. Б. Мартинюк, О. М. Тарасова, С. М. Фащілін // Оптоелектронні інформаційні технології «Фотоніка ОДС - 2018» : шоста міжнародна науково технічна конференція, 4-6 жовтня 2018р. ; збірник тез. – Вінниця: Видавництво ПП «ТД Едельвейс і К», – 2018. – с. 27. – ISSN 978-617-7237-50-0.