Штучні генерувальні структури діагностування цифрових пристроїв

Abstract

Проаналізовано особливості формування штучних генерувальних структур за допомогою внесення до складу схеми цифрового пристрою. (ЦП) тимчасових зв’язків між внутрішніми вузлами. З’ясовано умови реструктуризації схеми ЦП, які пристосовані до організації процесу тестування. Розроблено методику формування генераторів зворотних зв’язків, які не потребують особливого тестування елементів.

Проанализированы особенности формирования искусственных генерирующих структур посредством внесения в состав схемы цифрового устройства (ЦУ) временных связей между внутренними узлами. Выяснены условия реструктуризации схемы ЦУ, приспособленyые к организации процесса тестирования. Разработана методика формирования генераторов обратных связей, не требующих особых тестов элементов.

This paper analyzes the features of formation of generating artificial structures by introducing into the scheme of a digital device (DD) temporal relationships between the internal nodes. The conditions for the restructuring scheme of the DD, which are adapted to the organization of the testing process are defined. The technique of forming feedback generator that does not require special test items is developed in the paper.