Автоматизована інформаційна система частотного вимірювання товщини
| dc.contributor.author | Осадчук, О. В. | uk |
| dc.contributor.author | Криночкін, Р. В. | uk |
| dc.contributor.author | Osadchuk, O. V. | |
| dc.contributor.author | Krynochkin, R. V. | |
| dc.title | Автоматизована інформаційна система частотного вимірювання товщини | uk |
| dc.title.alternative | Automated information system for frequency measurement of thickness | en |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.publisher | Вінницький національний технічний університет | uk |
| dc.identifier.citation | Осадчук О. В. Автоматизована інформаційна система частотного вимірювання товщини [Текст] / О. В. Осадчук, Р. В. Криночкін // Інформаційні технології та ком’ютерна інженерія : тези доповідей Міжнародної науково-практичної конференції, м. Вінниця, 19–21 травня 2010 року. – Вінниця : ВНТУ, 2010. – С. 39-40. | uk |
| dc.identifier.isbn | 978-966-641-356-0 | |
| dc.identifier.udc | 621.385.832.002 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/9232 | |
| dc.description.abstract | Розробка нових вимірювачів товщини матеріалів та покриттів з високими метрологічними якостями є актуальним завданням, пов'язаним з широкою сферою промислових та технологічних процесів. | uk |
| dc.subject | транзисторна структура з від'ємним опором | uk |
| dc.subject | товщина | uk |
| dc.subject | вимірювання | uk |
| dc.subject | transistor structure with negative resistance | en |
| dc.subject | thickness | en |
| dc.subject | measurement | en |
| dc.type | Thesis | |
| dc.language.iso | uk | uk |
| dc.date.accessioned | 2016-03-25T18:11:16Z | |
| dc.date.available | 2016-03-25T18:11:16Z |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- осадчук.pdf
- Розмір:
- 1,82 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
- Опис:
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 2,14 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: