Оптимізація методу оцінки якості виробів електронної техніки за шумовими характеристиками для одноелектронного транзистора

Abstract

У роботі запропоновано оптимальне використання методу оцінки якості виробів електронної техніки за низькочастотними шумовими характеристиками для одноелектронного транзистора. А також запропонована математична шумова модель.The optimum use method of estimation quality wares of electronic technique is in-process offered on low-frequency noises by descriptions for a singleelectron transistor. And also the offered mathematical noise model.