Симетрично структуровані нвч детектори в системних вимірювачах мікрохвильових параметрів трактів

Abstract

Запропоновано структурне рішення системних НВЧ детекторних вимірювачів мікрохвильових параметрів трактів з високою метрологічною надійністю та точністю, яке дозволяє зменшити переважну інструментальну похибку рефлектометра та вимірювача затухання.Предложено структурное решение системных СВЧ детекторных измерителей микроволновых параметров трактов с высокой метрологической надежностью и точностью, которое позволяет уменьшить превалирующую инструментальную погрешность рефлектометра и измерителя затухания.Structural solution of system SHF detector measuring devices of microwave parameters of tracts with high metrological reliability and accuracy, which allow to decrease prevalent instrumental error reflectometer and attenuation gauge, is suggested.