Анализаторы производственных дефектов

Месюра, В. И.; Котов, И. Н.; Роик, А. М.; Калашников, Э. М.; Месюра, В. І.; Роїк, О. М.; Mesiura, V. Y.; Kotov, Y. N.; Royk, A. M.; Kalashnykov, E. M.; Mesyura, V. I.; Roik, O. M.

Анализаторы производственных дефектов

dc.contributor.author	Месюра, В. И.	ru
dc.contributor.author	Котов, И. Н.	ru
dc.contributor.author	Роик, А. М.	ru
dc.contributor.author	Калашников, Э. М.	ru
dc.contributor.author	Месюра, В. І.	uk
dc.contributor.author	Роїк, О. М.	uk
dc.contributor.author	Mesiura, V. Y.
dc.contributor.author	Kotov, Y. N.
dc.contributor.author	Royk, A. M.
dc.contributor.author	Kalashnykov, E. M.
dc.contributor.author	Mesyura, V. I.
dc.contributor.author	Roik, O. M.
dc.title	Анализаторы производственных дефектов	ru
dc.title.alternative	Analyzers of production defects	en
dc.date.issued	1986
dc.publisher	Центральный научно-исследовательский институт информации и технико-экономических исследований Министерства заготовок СССР	ru
dc.identifier.citation	Анализаторы производственных дефектов [Текст] / В. И. Месюра, И. Н. Котов, А. М. Роик, Э. М. Калашников // Структурное и покомпонентное диагностирование устройств радиоэлектронной аппаратуры : тезисы докл. научн. техн. конф. - Mосква : ЦНИИТЭИ, 1986. - С. 54-55.	ru
dc.relation.ispartof	Структурное и покомпонентное диагностирование устройств радиоэлектронной аппаратуры : тезисы докл. научн. техн. конф. : 54-55.	ru
dc.identifier.uri	http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/17908
dc.description.abstract	Рассмотрены основные принципы поэлементного диагностирования - нового подхода к диагностированию печатных узлов радиоэлектронной аппаратуры в процессе ее производства. Приведены основные параметры разработанного анализатора производственных дефектов	ru
dc.subject	поелементне діагностування	uk
dc.subject	друковані вузли	uk
dc.subject	радіоелектронна апаратура	uk
dc.subject	аналізатор виробничих дефектів	uk
dc.subject	element-by-element diagnostics	en
dc.subject	printed circuit assemblies	en
dc.subject	radioelectronic equipment	en
dc.subject	production defect analyzer	en
dc.type	Article
dc.language.iso	ru	ru
dc.date.accessioned	2017-07-25T08:59:56Z
dc.date.available	2017-07-25T08:59:56Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1

Назва:: Mesyura 1986 Moscow Tezy2.pdf
Розмір:: 2,75 MB
Формат:: Adobe Portable Document Format
Опис:

Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1

Назва:: license.txt
Розмір:: 10,07 KB
Формат:: Item-specific license agreed upon to submission
Опис:

Завантажити

Зібрання

Наукові видання каф. КН