Тестування структур схем цифрових пристроїв генераторним способом
Вантажиться...
Дата
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Testing the structures of digital device circuits by the generator method
Анотація
В роботі розглядається питання формалізації процесів побудови компонентних структур для систем внутрішньо-схемного діагностування цифрових пристроїв. Проаналізовано процес моделювання тестоприлатних структур в пакеті MicroCap. Аналізуються умови формування компонентних структур для систем внутрішньо- схемного діагностування ЦП.
Опис
Ключові слова
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Перевозніков С. І. Тестування структур схем цифрових пристроїв генераторним способом [Текст] / С. І. Перевозніков, В. С. Озеранський // Матеріали 8-ї міжнародної науково-практичної конференції «Інтернет-Освіта-Наука-2012 (ІОН-2012)», 1-5 жовтня, 2012 р. – Вінниця : ВНТУ, 2012. – С. 40.