<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorШабатура, Юрій Васильовичuk
dc.contributor.authorОвчинников, Костянтин В'ячеславовичuk
dc.contributor.authorShabatura, Yurii Vasyliovychen
dc.contributor.authorOvchynnykov, Kostiantyn Viacheslavovychen
dc.titleСпосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхняхuk
dc.title.alternativeСпособ измерения толщины диэлектрического покрытия на металлической поверхностиru
dc.title.alternativeMETHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF DIELECTRIC COATING ON A METALLIC SURFACEen
dc.date.issued2007-08-25
dc.publisherДержавне підприємство "Український інститут промислової власності"uk
dc.identifier.citationПат. 26546 UA, МПК G01B 5/00. Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях [Текст] / Ю. В. Шабатура, К. В. Овчинников (Україна). - № u200705608 ; заявл. 21.05.2007 ; опубл. 25.09.2007, Бюл. № 15. - 3 с. : кресл.uk
dc.identifier26546
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/1527
dc.description.abstractСпосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях може бути використаний для контролю процесу їх нанесення на металеві поверхні.uk
dc.description.abstractПредлагается способ измерения толщины диэлектрического покрытия на металлической поверхности.ru
dc.description.abstractIt is proposed a method for measuring the thickness of dielectric coating on a metallic surface.en
dc.subjectG01B 5/00
dc.subjectпокритття металевих поверхоньuk
dc.subjectвимірювання товщини покриттяuk
dc.subjectдіелектричне покриттяuk
dc.typePatent
dc.language.isoukuk
dc.date.accessioned2015-07-30T08:33:06Z
dc.date.available2015-07-30T08:33:06Z

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
26546.pdf
Розмір:
99,22 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
2,01 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Зібрання

Факультет інтелектуальних інформаційних технологій та автоматизації