<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Мікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках

Альтернативна назва

Микроэлектронное устройство для определения времени жизни носителей заряда в полупроводниках
Micro-electronic device for determination of lifetime of charge carriers in semiconductors

Анотація

Мікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках містить генератор спарених імпульсів, що складається з двох генераторів прямокутних імпульсів та лінії затримки, обмежувача імпульсів.
Микроэлектронное устройство для определения времени жизни носителей заряда в полупроводниках содержит генератор спаренных импульсов, который состоит из двух генераторов прямоугольных импульсов и линии задержки, ограничителя импульсов.
A microelectronic device for determination of lifetime of charge carriers in semiconductors includes a generator of paired pulses, this comprises two generators of rectangular pulses and a delay line, pulse restrictor.

Опис

УДК

Тип документа

Мова

Є частиною

ISSN

Посилання на публікацію

Серія, номер

ISBN

ББК

Інші ідентифікатори

84424

Пов’язані матеріали

Спонсорська підтримка

Правовласник

Бібліографічний опис

Пат. 84424 UA, МПК G01N 27/00. Мікроелектронний пристрій для визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках [Текст] / В. С. Осадчук, О. В. Осадчук, Л. В. Крилик, Р. В. Дуда (Україна). - № u201303349 ; заявл. 19.03.2013 ; опубл. 25.10.2013, Бюл. № 20. - 5 с. : кресл.

Схвалення

Рецензія

Доповнено

Цитується в