Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках
Вантажиться...
Файли
Дата
Науковий керівник
Редактор
Інші учасники
Відповідальний
ORCID
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
DOI
Альтернативна назва
Review of methods for determining charge carrier lifetime in semiconductors
Анотація
Час життя носіїв заряду в напівпровідниках є важливою складовою, що визначає параметри матеріалу, які в свою чергу впливають на характеристики напівпровідникових пристроїв, які використовують електронні властивості носіїв заряду. Існує значна кількість методів визначення часу життя, проте всі вони є не досить точними. Тому необхідно проводити додаткові дослідження для підвищення точності виміру цього параметру.
Опис
Ключові слова
УДК
Тип документа
Мова
Є частиною
ISSN
Посилання на публікацію
Серія, номер
ISBN
978-966-8736-05-6
ББК
Інші ідентифікатори
Пов’язані матеріали
Спонсорська підтримка
Правовласник
Бібліографічний опис
Осадчук В. С.Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках [Текст] / В. С. Осадчук, О. В. Осадчук, С. В. Барабан / Матеріали 9-ої Міжнародної науково-практичної конференції «Новости научной мысли-2013». - Praha : Publishing house «Education and Science» s.r.o., 2013. – Dil. 25. - С. 26-33.