<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках

Вантажиться...
Ескіз

Дата

Назва журналу

Номер ISSN

Назва тому

DOI

Анотація

Час життя носіїв заряду в напівпровідниках є важливою складовою, що визначає параметри матеріалу, які в свою чергу впливають на характеристики напівпровідникових пристроїв, які використовують електронні властивості носіїв заряду. Існує значна кількість методів визначення часу життя, проте всі вони є не досить точними. Тому необхідно проводити додаткові дослідження для підвищення точності виміру цього параметру.

Опис

УДК

Тип документа

Мова

Є частиною

ISSN

Бібліографічний опис

Осадчук В. С.Огляд методів визначення часу життя носіїв заряду в напівпровідниках [Текст] / В. С. Осадчук, О. В. Осадчук, С. В. Барабан / Матеріали 9-ої Міжнародної науково-практичної конференції «Новости научной мысли-2013». - Praha : Publishing house «Education and Science» s.r.o., 2013. – Dil. 25. - С. 26-33.

Схвалення

Рецензія

Доповнено

Цитується в