Аналіз методів та систем оптичного контролю поверхні матеріалів
| dc.contributor.author | Вишневський, Б. В. | uk |
| dc.contributor.author | Заболотна, Н. І. | uk |
| dc.contributor.author | Vyshnevskyi, B. V. | en |
| dc.contributor.author | Zabolotna, N. I. | en |
| dc.title | Аналіз методів та систем оптичного контролю поверхні матеріалів | uk |
| dc.date.issued | 2026 | |
| dc.publisher | Вінницький національний технічний університет | uk |
| dc.identifier.citation | Вишневський Б. В., Заболотна Н. І. Аналіз методів та систем оптичного контролю поверхні матеріалів // Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. Електрон. текст. дані. 2026. URI: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2026/paper/view/27669. | uk |
| dc.relation.ispartof | Матеріали LV Всеукраїнської науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 24-27 березня 2026 р. | uk |
| dc.relation.uri | https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-frtzp/all-frtzp-2026/paper/view/27669 | |
| dc.identifier.udc | 681.7: 616-71 | |
| dc.identifier.uri | https://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/54716 | |
| dc.description.abstract | У статті проведено аналіз відомих методів та інформаційно-вимірювальних систем для дистанційного контролю якості поверхонь матеріалів. Розглянуто основні типи мікродефектів, а саме такі як тріщини, пори та сколи, які виникають у процесі виготовлення. Наведено характеристику порівняння інтерференційних, голографічних і поляриметричних методів дефектоскопії. Обґрунтовано перспективу використання матричного методу Мюллера з поєднанням цифрової оброблення зображень для автоматизованого виявлення структурних неоднорідностей матеріалів на початкових стадіях руйнування. | uk |
| dc.description.abstract | This article analyzes known methods and information-measuring systems for remote quality control of material surfaces. It examines the main types of microdefects, namely cracks, pores, and chips, that arise during the manufacturing process. A comparative analysis of interferometric, holographic, and polarimetric defect detection methods is presented. The potential for using the Müller matrix method in combination with digital image processing for the automated detection of structural inhomogeneities in materials at the initial stages of failure is substantiated. | en |
| dc.subject | інформаційно-вимірювальна система | uk |
| dc.subject | матриця Мюллера | uk |
| dc.subject | поляризаційно-фазовий контроль | uk |
| dc.subject | дефектоскопія поверхонь | uk |
| dc.subject | лазерна поляриметрія | uk |
| dc.subject | аналіз зображень | uk |
| dc.subject | information and measurement system | en |
| dc.subject | Mueller matrix | en |
| dc.subject | polarization-phase control | en |
| dc.subject | surface defectdetection | en |
| dc.subject | laser polarimetry | en |
| dc.subject | image analysis | en |
| dc.type | Thesis | |
| dc.language.iso | uk | uk |
| dc.relation.references | [1] [2] [3] За параметрами точності оптичного контролю поверхні матеріалів та інформативності перевагу мають методи лазерної поляриметрії із цифровою обробкою та аналізом зображень. В роботі застосовується мюллер-матрична поляриметрія для визначення оптико-анізотропних характеристик досліджуваних зразків матеріалів. Інформаційно-вимірювальна система для її реалізації містить вимірювальний канал, побудований на основі фіксації лазерного поля випромінювання, відбитого від поверхні матеріалів, у відповідності до феноменологічного методу вимірювання. Матриця Мюллера складається із 16 мюллер-матричних зображень і формується на основі 24 виміряних поляризаційно відфільтрованих інтенсивностей зображень досліджуваного зразка. Відомі інформаційно-вимірювальні системи на основі мюллер-поляриметрії включають у свою архітектуру програмне забезпечення комп'ютера, яке реалізує обробку та аналіз матриць Мюллера. В даній роботі пропонується розширення функціональних можливостей таких інформаційновимірювальних системах шляхом проведення вимірювання на двох довжинах лазерного випромінювання з їх комп'ютерним аналізом для диференціації отриманих дефектів. Висновки В даній роботі обґрунтовано, що для високоточної дефектоскопії поверхонь матеріалів найкращим оптимальним рішенням є поєднання таких методів як лазерна поляриметрія та матричний аналіз Мюллера. Реалізація їх в структурі відповідної інформаційно-вимірювальної системи, доповненої інтелектуалізованим аналізом даних, та при проведенні дослідження на двох довжинах хвиль дозволять підвищити точність контролю дефектів поверхонь матеріалів. СПИСОК ВИКОРИСТАНОЇ ЛІТЕРАТУРИ | uk |
| dc.relation.references | Mueller H. The Foundations of Optics / H. Mueller // Journal of the Optical Society of America. – 1948. – Vol. 38, Issue 1. – P. 661-663. | en |
| dc.relation.references | Ушенко О. Г. Лазерна поляриметрія біологічних та шорстких поверхонь / О. Г. Ушенко. – Чернівці: ЧНУ, 2007. – 254 с. | uk |
| dc.relation.references | Goldstein D. H. Polarized Light. — 3rd ed. — New York: CRC Press, 2011. — 726 p. | en |
| dc.relation.references | Zabolotna N. I. Methods and systems of polarization reproduction and analysis of the biological layers structure in the diagnosis of pathologies / N. I. Zabolotna, V. V. Sholota, H. H. Okarskyi // Proc. SPIE. – 2020. – Vol. 11369. – 113691S. | en |
| dc.relation.references | Modern polarimetry of biological tissues / J. Vizet et al. – 2021. – Vol. 11. – 88515. URL: https://www.nature.com/articles/s41598-021-88515-x (дата звернення: 16.03.2026). | en |
| dc.relation.references | Schematic diagram of the scanning laser polarimeter. URL: https://www.researchgate.net/figure/fig1_8004263 (дата звернення: 16.03.2026). | en |
| dc.date.accessioned | 2026-09-24T08:56:32Z | |
| dc.date.available | 2026-09-24T08:56:32Z |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- 27669.pdf
- Розмір:
- 566,89 KB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1