Прискорене тестування схем цифрових пристроїв
| dc.contributor.author | Драчук, С. В. | uk |
| dc.contributor.author | Озеранський, В. С. | uk |
| dc.contributor.author | Drachuk, S. V. | |
| dc.contributor.author | Ozeransky, V. S. | |
| dc.title | Прискорене тестування схем цифрових пристроїв | uk |
| dc.title.alternative | Accelerated testing of digital device circuits | en |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.publisher | Вінницький національний технічний університет | uk |
| dc.identifier.citation | Драчук С. В. Прискорене тестування схем цифрових пристроїв [Електронний ресурс] / С. В. Драчук, В. С. Озеранський // Матеріали XLVII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 14-23 березня 2018 р. – Електрон. текст. дані. – 2018. – Режим доступу: https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2018/paper/view/5353. | uk |
| dc.relation.ispartof | Матеріали XLVII науково-технічної конференції підрозділів ВНТУ, Вінниця, 14-23 березня 2018 р. | uk |
| dc.relation.uri | https://conferences.vntu.edu.ua/index.php/all-fitki/all-fitki-2018/paper/view/5353 | |
| dc.identifier.udc | 518.681 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/20543 | |
| dc.description.abstract | В роботі розглянуто способи прискореного тестування схем цифрових пристроїв. Проаналізовано реалізацію різних методик тестування цифрових схем для вибору серед них таких сполучень процедур пошуку несправностей, які найкраще використовують апаратні властивості засобів внутрішньосхемного тестування. | uk |
| dc.description.abstract | Methods of accelerated testing of circuits of digital devices are considered in this work. The implementation of various methods of testing digital circuits has been analyzed to choose among such combinations of troubleshooting procedures that best utilize the hardware properties of in-circuit testing. | en |
| dc.subject | Прискорене тестування | uk |
| dc.subject | внутрішньосхемне тустування | uk |
| dc.subject | цифрові пристрої | uk |
| dc.subject | технічна діагностика | uk |
| dc.subject | Accelerated testing | en |
| dc.subject | in-circuit testing | en |
| dc.subject | digital devices | en |
| dc.subject | technical diagnostics | en |
| dc.type | Thesis | |
| dc.language.iso | uk | uk |
| dc.date.accessioned | 2018-05-25T11:12:31Z | |
| dc.date.available | 2018-05-25T11:12:31Z |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1