<link rel="stylesheet" href="styles.f3b1fba60ec7970c.css">

Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorОвчинников, Костянтин Вячеславовичuk
dc.contributor.authorКривогубченко, Сергій Григоровичuk
dc.contributor.authorІванов, Юрій Юрійовичuk
dc.date.accessioned2023-04-28T12:10:46Z
dc.date.available2023-04-28T12:10:46Z
dc.date.issued2022-11-02
dc.identifier152125
dc.identifier.citationПат. 152125 UA, МПК G01B 5/06. Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь [Текст] / К. В. Овчинников, С. Г. Кривогубченко, Ю. Ю. Іванов (Україна). – № u 202106551 ; заявл. 19.11.2021 ; опубл. 02.11.2022, Бюл. № 44. – 3 с.uk
dc.identifier.urihttp://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/36913
dc.language.isouk_UAuk_UA
dc.publisherДержавне підприємство «Український інститут інтелектуальної власності» (Укрпатент)uk
dc.subjectG01B 5/06
dc.subjectвимірюванняuk
dc.subjectтовщина покриттяuk
dc.titleСпосіб вимірювання товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхоньuk
dc.typePatent

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
152125.pdf
Розмір:
765,38 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
129 B
Формат:
Plain Text
Опис:
Завантажити

Зібрання

Факультет інтелектуальних інформаційних технологій та автоматизації